Forskellen mellem AFM og STM

AFM vs STM

AFM henviser til Atomic Force Microscope, og STM henviser til Scanning Tunneling Microscope. Udviklingen af ​​disse to mikroskoper betragtes som en revolution inden for det atomære og molekylære felt.

Når man taler om AFM, optager den nøjagtige billeder ved at flytte en spidsstørrelse på nanometer over billedets overflade. STM optager billeder ved hjælp af kvantetunneling.

Af de to mikroskoper var Scanning Tunneling Microscope den første, der blev udviklet.

I modsætning til STM skaber proben en direkte kontakt med overfladen eller beregner den begyndende kemiske binding i AFM. STM-billederne indirekte ved at beregne kvantitetsgradstunneling mellem probe og prøve.

En anden forskel, der kan ses, er, at spidsen i AFM rører overfladen forsigtigt berører overfladen, mens spidsen i STM holdes i en kort afstand fra overfladen.

I modsætning til STM måler AFM ikke tunnelstrømmen, men måler kun den lille kraft mellem overfladen og spidsen.

Man har også set, at AFM-opløsningen er bedre end STM. Derfor bruges AFM i vid udstrækning i nanoteknologi. Når man taler om afhængigheden mellem kraft og afstand, er AFM mere kompleks end STM.

Når scanning af tunnelmikroskop normalt er anvendeligt på ledere, er Atomic Force-mikroskopet anvendeligt på både ledere og isolatorer. AFM passer godt til væske- og gasmiljøer, mens STM kun fungerer i højvakuum.

Sammenlignet med STM giver AFM en mere topografisk direkte kontrasthøjdemåling og bedre overfladefunktioner.

Resumé

1. AFM optager nøjagtige billeder ved at bevæge en spids af nanometerstørrelse over billedets overflade. STM optager billeder ved hjælp af kvantetunneling.

2. Sonden kommer i direkte kontakt med overfladen eller beregner den begyndende kemiske binding i AFM. STM-billederne indirekte ved at beregne kvantitetsgradstunneling mellem probe og prøve.

3. Spidsen i AFM berører overfladen rører forsigtigt overfladen, mens i STM holdes spidsen i en kort afstand fra overfladen.

4. AFM-opløsning er bedre end STM. Derfor bruges AFM i vid udstrækning i nanoteknologi.

5. Når scanning af tunnelmikroskop normalt er anvendeligt på ledere, er Atomic Force-mikroskopet anvendeligt på både ledere og isolatorer.

6. AFM passer godt til væske- og gasmiljøer, mens STM kun fungerer i højvakuum.

7. Af de to mikroskoper var Scanning Tunneling Microscope den første, der blev udviklet.